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桌面型X射線衍射儀利用X射線與晶體相互作用原理,通過(guò)測(cè)量衍射圖案來(lái)分析材料的晶體結(jié)構(gòu)、相組成及晶粒特性。該儀器采用高精度θ-θ立式測(cè)角儀與先進(jìn)的探測(cè)器技術(shù),確保數(shù)據(jù)的高分辨率與準(zhǔn)確性。同時(shí),內(nèi)置的分析軟件可實(shí)現(xiàn)一鍵式操作與自動(dòng)化數(shù)據(jù)分析,簡(jiǎn)化實(shí)驗(yàn)流程。桌面型X射線衍射儀在實(shí)際使用...
校準(zhǔn)TD-3700X射線衍射儀是確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和儀器性能穩(wěn)定的重要步驟。以下是校準(zhǔn)TD-3700X射線衍射儀的詳細(xì)步驟:一、前期準(zhǔn)備1.實(shí)驗(yàn)環(huán)境準(zhǔn)備:打開(kāi)實(shí)驗(yàn)室的空調(diào)和排氣扇,確保實(shí)驗(yàn)環(huán)境的溫度、濕度適宜。保持實(shí)驗(yàn)室地面干燥無(wú)雜物,防止滑倒或觸碰設(shè)備。2.儀器檢查與開(kāi)啟:檢查設(shè)備外殼是否完整,觀察鉛玻璃防護(hù)罩有無(wú)裂紋,門(mén)縫密封條是否脫落。按照正確的輸入、輸出順序打開(kāi)穩(wěn)壓器,為儀器提供穩(wěn)定的電源。如果儀器配備水冷系統(tǒng),需開(kāi)啟水冷系統(tǒng),并調(diào)整水冷機(jī)的設(shè)定溫度(例如25℃),同...
X射線吸收譜(XAS)是一種基于同步輻射光源的先進(jìn)分析技術(shù),通過(guò)測(cè)量物質(zhì)對(duì)X射線的吸收特性,揭示原子局域電子態(tài)及幾何結(jié)構(gòu)信息。其核心原理可分解為物理過(guò)程與能量分區(qū)兩大維度:物理過(guò)程:電子躍遷與散射干涉當(dāng)X射線能量達(dá)到原子內(nèi)層電子(如K、L層)的電離能時(shí),電子被激發(fā)為光電子,形成吸收邊的突躍。光電子以波函數(shù)形式向外傳播,若遇到近鄰原子會(huì)發(fā)生彈性散射(背散射),散射波與出射波在吸收原子處干涉,導(dǎo)致吸收系數(shù)隨能量周期性振蕩。這一過(guò)程可通過(guò)朗伯-比爾定律定量描述:吸收系數(shù)μ(E)與樣...
提高二維X射線衍射儀的性能可以從以下幾個(gè)方面進(jìn)行:一、優(yōu)化儀器配置1.升級(jí)探測(cè)器:選擇高靈敏度和高分辨率的探測(cè)器,如4KCCD芯片,可以提高衍射圖像的采集質(zhì)量,從而提升儀器的整體性能。2.配置微焦斑點(diǎn)光源:與傳統(tǒng)線光源相比,微焦斑點(diǎn)光源能夠提供更小的光斑尺寸,通常小于幾十微米,甚至達(dá)到亞微米級(jí)。這種高精度的光源使得XRD分析能夠在微小區(qū)域內(nèi)進(jìn)行,有助于提高儀器的分辨率和測(cè)試精度。3.使用二維探測(cè)器:二維探測(cè)器能夠同時(shí)記錄多個(gè)角度的衍射信號(hào),形成二維衍射圖譜,大大提高了數(shù)據(jù)收集...
X射線吸收譜(XAS)通過(guò)分析材料對(duì)X射線的吸收邊結(jié)構(gòu),揭示元素局部化學(xué)環(huán)境與電子結(jié)構(gòu)信息。實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)的核心在于樣品制備的均勻性及測(cè)量參數(shù)的精準(zhǔn)調(diào)控,以下為關(guān)鍵步驟指南:一、樣品制備優(yōu)化粉末樣品研磨與壓片:將樣品研磨至粒徑30%。例如,金屬氧化物樣品需避免過(guò)度研磨引入晶格畸變。稀釋與混合:對(duì)強(qiáng)吸收元素(如Fe、Cu),需用惰性基質(zhì)(如硼酸、纖維素)稀釋至合適濃度(通常1-5wt%),防止自吸收效應(yīng)導(dǎo)致邊前峰失真。薄膜/液體樣品薄膜沉積:采用磁控濺射或旋涂法制備厚度液體封裝:使用...
丹東X射線衍射儀,特別是如丹東奧龍推出的AL-Y3500組合多功能X射線衍射儀,在材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)了廣泛的應(yīng)用價(jià)值和技術(shù)優(yōu)勢(shì)。以下是對(duì)其多功能用途與技術(shù)優(yōu)勢(shì)的詳細(xì)闡述:多功能用途1.物相定性定量分析:X射線衍射儀能夠精確地對(duì)金屬和非金屬多晶樣品進(jìn)行物相定性定量分析,幫助研究人員了解樣品的成分和結(jié)構(gòu)。2.晶體結(jié)構(gòu)分析:該儀器可用于揭示材料的晶體結(jié)構(gòu),包括晶格常數(shù)、晶體缺陷等信息,對(duì)于理解材料的物理和化學(xué)性質(zhì)至關(guān)重要。3.材料結(jié)構(gòu)分析:X射線衍射儀可用于分析各...
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